Semrock/380 nm边缘亮线单边二向色分束器/FF380-Di01-25x36/25.2 mm x 35.6 mm x 1.1 mm（未安装）
商品编号：
FF380-Di01-25x36
品牌：
Semrock
市场价：
¥4442.10
美元价：
3417.00
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3392242852
电话号码：
4000-520-616
电子邮箱：
info@ebiomall.com
商品介绍
Semrockoffersawiderangeofpolarization-insensitivedichroicbeamsplittersthatexhibitsteepedgeswithveryhighandflatreflectionandtransmissionbands.Filtersareavailableinversionsoptimizedforwidebandlightsources,lasersources,multiphotonsystems,Ramanspectroscopy,imagesplitting,andlaserbeamcombiningandseparating.
OpticalSpecifications
| Specification | Value |
| ReflectionBand1 | Ravg>95%350–375nm |
| EdgeWavelength1 | 380nm |
| TransmissionBand1 | Tavg>93%385–450nm |
GeneralFilterSpecifications
| Specification | Value |
| AngleofIncidence | 45±1.5degrees |
| ConeHalf-angle | 2degrees |
| OpticalDamageRating | Testinghasproventoshownosignsofdegradationwhenexposedtoatleast6.0Wofpowerfromanunfilteredxenonarclampovera25mmdiameter(correspondingto1.2W/cm2)forover500hrs. |
| Flatness | Standard |
| Steepness | Standard |
| FilterEffectiveIndex | 1.86Understanding‘EffectiveIndexofRefraction’neff |
PhysicalFilterSpecifications(appliestostandardsizedparts;contactusregardingothersizes)
| Specification | Value |
| TransverseDimensions(LxW) | 25.2mmx35.6mm |
| TransverseTolerance | ±0.1mm |
| FilterThickness(unmounted) | 1.05mm |
| FilterThicknessTolerance(unmounted) | ±0.05mm |
| ClearAperture | ≥80%(elliptical) |
| Scratch-Dig | 60-40 |
| SubstrateThickness(Unmounted) | 1.05mm |
| SubstrateThicknessTolerance(Unmounted) | ±0.05mm |
| Orientation | Reflectivesurfacemarkedwithpartnumber-Orientindirectionofincominglight |
品牌介绍
Semrock 已成为生命科学工业的光学滤光片标准，我们拥有专利的设计技术，可创建拥有市场上最复杂光谱的滤光片。不论您是选择我们品类众多的目录产品，还是您指定参数的定制滤光片，我们无与伦比的品质、可靠性、重复性都将令您感到十分满意！光学滤光片 - 无与伦比的品质我们的滤光片让您可以拓展您的设备的信噪比的设计极限。陡峭的边缘使每个探测通道的带宽达到最大，这样，高透/高反的每个光子都可能探测到。深邃扩展的阻挡能力将根据您的应用来优化设计，从而减少噪声、最小化各通道之间的串色。荧光滤光片: 单带通, 多带通, 激光线, 可调式边缘滤光片: 长通, 短通, 超陡, 29 个激光线波长二向色镜分光镜: 宽带应用, 激光应用, 多光子应用激光滤光片: 消杂, 超陡边缘, 二向色镜, 限波专注领域:DNA 测序荧光显微镜 & 成像流式细胞仪高内涵扫描即时诊断 (POCT)拉曼 & FTIR 光谱仪光学相干层析 Optical Coherence Tomography
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