Semrock 滤光片常见问题解答

来自 : 发布时间：2024-05-03

常见问题解答 首页 联系方式 联系我们 常见问题解答 光学滤光片常见问题解答 网上商店常见问题解答 流体学常见问题解答 光学滤光片常见问题解答 相机常见问题解答 微流体常见问题解答 工程合作伙伴常见问题解答 光学滤光片常见问题解答

此处，我们提供了有关 Semrock 光学滤光片及相关应用的常见问题解答的完整列表。此信息旨在支持您的询问，但如果您没有找到所需的答案，我们鼓励您与我们联系以获取进一步的帮助。

请使用左侧导航中的排序按钮在问题和问题之间导航。特定于流体、相机、微流体、我们的网上商店和工程合作伙伴的答案。

问：哪种 Semrock 滤光片组与您的荧光团兼容？使用我们的荧光团参考表来匹配哪种 Semrock光学滤光片组兼容与您应用中的荧光团一起使用。问：如何清洁光学滤光片？

所需材料：

乳胶或丁腈手套洁净室抹布各种尺寸的洁净室拭子去离子水HPLC 级甲醇用于擦拭拭子的布以去除多余的液体镊子氮气压缩空气供应流体分配器

准备：

在使用棉签和溶剂清洁之前，用压缩空气吹掉光学滤光片上的灰尘。戴上手套，将滤光片放在洁净室抹布上。即使戴上手套，也只能使用滤光片的边缘来处理。使用镊子或手指以获得最佳效果。

一般清洁：

选择洁净室拭子尺寸。按下流体分配器，使清洁液流入顶部，然后将拭子接触甲醇（不要将拭子直接放入流体中）容器）。将棉签接触洁净室擦拭布o 去除多余的液体。根据零件尺寸，将棉签涂抹在过滤器上，对圆形零件进行圆周运动，对矩形零件进行 S 形运动，穿过过滤器表面。在整个过程中与过滤器保持接触非常重要。将过滤器翻转并重复。请勿在第二个过滤器一侧使用同一拭子面。

在本操作指南中查找我们的演示视频，了解有关如何清除光学过滤器上的顽固碎片以及清洁光学过滤器的注意事项的更多详细信息。

如果您有边缘黑色滤光片，请查看此常见问题解答。

问：滤光片上边缘黑色涂料的使用寿命是多长，是否有特殊方法来清洁这些滤光片？

边缘黑化涂料旨在在过滤器的使用寿命内保持粘附在玻璃表面上，而不会分解和/或脱落，前提是过滤器边缘上的涂料既不会被外部介质磨损，也不会被化学试剂溶解，例如如丙酮。合适的例子用途包括稳定地固定在组件或外壳中而不暴露于此类溶剂。我们没有遇到过客户对带有边缘黑化滤光片的光学系统已经使用了十多年的有关边缘黑化涂料的投诉。

使用异丙醇 (IPA) 或甲醇来清洁边缘黑化滤光片，因为这些溶剂不会影响边缘变黑的油漆，前提是清洁过程温和，即不剧烈或持续时间过长。请勿使用丙酮，因为这会去除油漆。

了解如何清洁 Semrock® 光学滤光片而不使边缘变黑

问：我的公司如何检查滤光片是否符合外观规格？< p>IDEX Health & Science 运送的每个 Semrock 品牌滤光片均已根据适当的 ANSI 或 ISO 10110 检验程序进行检验，并证明通过了相关的外观规格。如果客户希望检查过滤器是否符合外观规格，则再次n 有必要遵循适用的化妆品检验程序。

要检查有限数量的化妆品过滤器，可以使用 RMA 将过滤器返回 IDEX Health & Science 生产设施进行检查；检查结果将与客户共享。

如果要在客户现场持续检查过滤器中的化妆品，则客户必须建立与适当的检查方法一致的检查方法。化妆品标准。我们的团队很乐意就基本步骤和要求提供建议，但不能负责在客户现场实施这些检查方法。

建立这样的外观检查系统通常需要在此过程中经验丰富的人员的帮助，他们将购买相关标准文件、可视化设备、对比标准。然后，此人将为日常使用检查系统的人员制定培训计划。

Che请在此处观看有关外观检查的信息视频。

问：什么是角度调谐？

当滤光片上的光入射角 (AOI) 为从 0°（垂直入射）增加到更大的角度。在大多数情况下，滤光片光谱在较大角度下会变得高度失真，并且 s 偏振光和 p 偏振光的偏移可能显着不同。您所经历的光谱偏移很大程度上取决于滤光片设计。要详细了解角度调谐如何影响不同 Semrock 滤光片的光谱性能，请查看我们的技术说明：非法线入射角的滤光片光谱。

VersaChrome® 可调谐带通滤光片

VersaChrome 滤光片是革命性的新型光学滤光片技术：薄膜滤光片可通过调整入射角在较宽的波长范围内进行调谐，而光谱性能基本没有变化。有关可调的更多信息滤镜可以在我们的技术库中找到。

如果您对特定应用程序还有其他疑问，请联系技术支持寻求帮助。

MyLight™

尝试使用 MyLight™ 自行调整角度。选择您的滤镜，然后单击光谱上方的蓝色\"MyLight”按钮，以您想要的任何角度对理论数据进行建模。

问：什么是 AOI 和 CHA？

入射角 (AOI) 是准直的角度光束入射到滤光片的第一表面，相对于表面法线进行测量。圆锥半角，或 CHA，指与非准直入射光束相关的角度范围，从 AOI 到最大锥角进行测量。

更改入射光的 AOI 或 CHA 将更改滤波器的光谱响应。有关不同类型的 Semrock 滤光片如何响应 AOI 变化的更多信息，请查看我们的技术说明：非法线入射角的滤光片光谱。 CHA 的光谱响应取决于许多因素，因此请联系技术支持讨论您的具体应用。

保证滤光片性能的 AOI 和 CHA 范围列于网站上每个滤光片的规格选项卡中。给出的 AOI 和 CHA 规格是排他性的；当入射光的 CHA 和 AOI 值非零时，滤光片可能不符合规格。

问：什么是 ASCII 数据？

ASCII 数据通常是具有两列的文本文件。第一列是波长（以纳米为单位测量），第二列是滤光片在该波长下的相应透射率值。透射率值的范围为 0 到 1 或 0% 到 100%。所有过滤器的 ASCII 数据均可在 Semrock 网站上下载。大多数滤波器显示实际测量数据，而少数滤波器则列出理论数据。图例表明显示的数据是测量数据或理论数据。

当您查看过滤器的详细信息时，您会在图表右侧找到该过滤器的 ASCII 数据的链接。单击\"ASCII 数据”保存可用于绘制滤光片光谱图的文本文件副本。

如果您需要单个滤波器的理论数据，请使用蓝色 MyLight 按钮位于图表上方，并对理论数据进行建模，并下载 ASCII 数据。

问：什么是带宽？

Semrock 使用\"可制造规范”方法来定义 BrightLine® 带通的带宽过滤器。我们相信这种方法可以更准确地反映光学系统中滤光片的性能。

如图所示，滤光片光谱（红线）必须位于非阴影区域内。平均传输必须超过传输区域中的规格 Tavg (%)，该区域具有一定的中心波长 (CWL) 和称为保证最小带宽 (GMBW) 的宽度。滤波器部件号的格式为 FF01-{CWL}/{GMBW}。

传输必须低于阻塞区域中的阻塞级别规范 (OD)。过渡区域中光谱的精确形状未指定。然而，滤波器通带的半高全宽 (FWHM) 通常约为 CWL 的 1%。GMBW 带宽，

或

FWHM≅ GMBW + 0.01 x CWL

因此，对于图中所示的示例，FF01-520/35 滤光片的 GMBW 为 35 nm，FWHM 为 35 nm + 520 nm 的 1%，即 40 nm .

问：什么是通光孔径？

通光孔径

虽然光学涂层延伸到每个 Semrock 滤光片的边缘，但通光孔径将小于每个滤光片的横向尺寸.

对于无外壳的圆形过滤器，保证通光孔径大于外径的85%。对于方形和矩形零件，保证的通光孔径将大于滤光片横向尺寸的 80%，并且形状为椭圆形。带壳滤光片的通光孔径取决于滤光片的尺寸和厚度外壳环。所有滤光片规格仅在通光孔径区域内得到保证。

具体信息可在每个滤光片的规格选项卡上找到。

问：如何购买定制滤光片？

如果您想获得定制滤光片的报价，请填写我们的定制光学滤光片过滤器申请表。

我们的大批量 IBS 溅射技术提供无与伦比的性能、可重复性和价值。我们的设计师将满足您的滤光片需求还可以在其他领域增加价值，例如光学单元设计和测量平台。从原型到生产，您可以信赖我们提供专业的设计建议、无与伦比的性能和坚如磐石的可靠性。要详细了解如何从我们的经验中受益，请联系Semrock 的技术支持人员或致电 866-SEMROCK 讨论所有可用选项。

问：如何自定义过滤器尺寸？

IDEX Health & Science 提供自定义尺寸大多数 Semrock 品牌目录过滤器就在我们的网站上。无论您需要无外壳/无安装的圆形或矩形过滤器，还是安装在我们标准尺寸铝制外壳中的过滤器，都可以使用我们的定制尺寸工具来计算您所需数量和零件编号的价格，并将其添加到您的购物车进行购买.

只需输入您所需的直径、矩形尺寸或所需的外壳直径。我们的 Semrock 光学滤光片团队可以调整尺寸为从 5 毫米到 50 毫米的任何直径，增量为 1 毫米，并且最常见的英制尺寸为 12.7 毫米（1/2 英寸）、25.4 毫米（1 英寸）和 50.8 毫米（2 英寸）。需要 31.4 毫米的未安装直径吗？我们也可以满足这一点，我们的内部销售团队将在您的订单确认中提供交货时间（通常为四个星期）。 IDEX Health & Science 还提供以下尺寸的标准尺寸铝制外壳：12.5 毫米、25 毫米、25 毫米萨特螺纹环、32 毫米和 50 毫米。

每个可用于定制尺寸的过滤器都列出了尺寸范围可以在产品页面上容纳该过滤器。基材厚度和公差与感兴趣滤光片的标准尺寸部件相同，只需单击\"规格”选项卡即可了解详细信息。

需要超出这些限制的尺寸，请联系我们的 Semrock 光学滤光片团队询问。

问：什么是过滤器方向？

Semrock 过滤器的方向

由于 Semrock 过滤器的耐用性，您可以轻松填充过滤器立方体、过滤器自己动手滑动滑块和滤镜轮，无需担心损坏滤镜。为了最大化预期的透射和阻挡并最小化自发荧光，滤光片必须始终定向，以便光入射到滤光片的特定表面上。本说明描述了不同滤波器类型的正确方向。

定向带壳激励和发射滤波器

安装在外壳中的 Semrock 激励器和发射器滤波器在外壳上有一个对齐箭头；请参阅下图。调整滤光片的方向，使箭头指向光传播的方向。对于显微镜，激励滤光片箭头应远离光源指向二向色分光镜，发射滤光片箭头应远离二向色分光镜指向眼睛，探测器r，或相机。

二向色分光镜很少安装在外壳中。请参阅下文获取指导。

定向二向色分光镜和其他无外壳滤光片

二向色分光镜和其他无外壳滤光片具有方向标记，可识别涂层表面哪些光必须入射。方向标记可以放置在过滤器的前表面上，也可以放置在过滤器的边缘上作为脱字号 (^) 标记。下图中显示了不同类型的方向标记以及相应的方向指导。

Semrock徽标：徽标位于面向入射光的表面。线：位于面向入射光的表面上的短线。如果从斜角观察，该线可能更容易看到。 点：面向入射光的表面上有一个小点。如果从斜角观察，该点可能更容易看到。插入符：滤光片边缘的插入符指向光传播的方向。当观察者面向接收入射光的表面时，插入符号指向远离观察者的方向。

注意：许多二向色分光镜的两个表面都有涂层。请务必使用上述说明来识别应面向入射光的涂层表面！如果您遇到任何歧义或困难，请联系 Semrock 获取识别表面方向的帮助。

更多资源

显微镜立方体组装的完整操作说明以 PDF 格式和视频提供。< /p>Q：了解滤波器、基板和外壳厚度

Semrock 提供两种各个目录尺寸滤光片的类别：无外壳滤光片，例如二向色分束器、镜子和可调滤光片，或安装在黑色阳极氧化铝外壳中的有外壳滤光片。带壳滤光片包括带通滤光片、边缘滤光片和一些二向色分束器。对于无外壳过滤器，未安装的过滤器厚度和未安装的基板厚度是相同的。对于带壳过滤器，安装后的过滤器厚度和未安装的基板厚度是不同的，因为安装后的过滤器厚度与外壳厚度相同。

每个带壳过滤器都有一种标准过滤器（外壳）厚度， 3.5 毫米或 5.0 毫米。当 3.5 mm 外壳过滤器是过滤器组的一部分时，通常用作发射器； 5.0 毫米滤波器最常用作滤波器组的一部分时的激励器。钍e 3.5毫米厚的外壳可容纳1.05毫米至2.0毫米厚度的基板； 5.0 毫米厚的外壳，从 1.05 毫米到 3.5 毫米。

作为标准目录配置安装在外壳中的每个过滤器的尺寸在物理过滤器规格下的规格选项卡（见下文）中显示为\"横向尺寸（直径）”。

以 GFP-3035D 通用滤波器组中的激励器和发射器滤波器为例。 FF02-472/30-25 激励器安装在 5.0 mm 铝制外壳中，如下所示。

FF01-520/35-25发射器安装在 3.5 mm 铝制外壳中，如下所示。

对于目录配置中的二向色分束器和其他未安装的滤光片，\"规格”选项卡中滤光片的尺寸显示为\"横向尺寸（长 x

如下图所示，GFP-3035D滤光片组的FF495-Di03-25x36二向色分光镜尺寸为25.2 mm x 35.6 mm，基板厚度为1.05 mm，未安装。< /p>

在\"规格”选项卡的\"物理滤波器规格”部分中查找有关滤波器厚度（无论是安装还是未安装）、未安装基板厚度以及滤波器和基板厚度的尺寸公差的信息.

自定义尺寸、未安装的圆形或矩形滤光片的厚度是指基板厚度。

有关滤光片、基板或外壳厚度的问题，请联系我们的 Semrock 光学滤光片团队。

问：什么是平坦度/RWE 分类？

波前畸变会降低对比度或损害分辨率，从而降低图像质量。在多种显微镜应用中，减少波前畸变对于实现显微镜方法至关重要。

IDEX Health & Science 提供广泛且行业领先的 Semrock 品牌目录过滤器，适用于具有特定平坦度/RWE 需求的各种应用。下表列出的平整度分类提供了一种直观的方法，可以为给定应用选择具有适当平整度的产品。

在确定给定应用所需的合适平整度时，最重要的参数通常是梁的直径撞击二向色分束器表面。下表显示了最适合该应用的 Semrock 滤光片的最大直径值。有关更具体的信息以及其他光束直径值和显微镜示例，有关此主题的技术说明和白皮书 [1, 2] 提供了有关 RWE、TWE 和显微镜方法的附加信息，以及从系统设计者角度提供的指导。

[1] 技术说明：选择二向色分光镜具有适合显微镜方法的平坦度/RWE 的 rs

[2] 白皮书：通过使用滤光片控制波前误差来最大限度地提高先进显微镜的性能

平坦度/RWE 分类

示例应用

标称曲率半径

最大反射光束直径，毫米

632.8 nm 处的反射波前误差，PV

二向色系列和示例部件编号

超分辨率/TIRF

TIRF、PALM、STORM、STED

~ 1275 米

22.5

< 0.2λ

BrightLine® 激光 (Di03-R405-t3-)

~ 255 米

10

< 1λ

BrightLine® 激光 (Di03-R405-t1-)

图像分割

在基于像素的探测器上分离发射信号

~ 1275米

37

< p>< 0.2λ

BrightLine®图像分割(FF509-FDi02-t3-)

~ 100米

10

< 2λ

BrightlLine® 图像分割 (FF509-FDi01-)

激光

共焦、组合/分离激光束

~ 30米

2.5

< 6λ

BrightLine ® 激光 (Di02-R405-)

RazorEdge Dichroic™ (LPD02-488RU-)

LaserMux™ (LM01-503-)

StopLine® 切口二向色(NFD01-488-)

标准落射荧光

宽场荧光

~ 6米

不适用

< p>>> 6λ

BrightLine® (FF495-Di03-)

问：什么是光密度？

光密度 (OD) 是描述光透过率的便捷工具高阻隔滤光片（当透射率极小时）。 OD 定义为透射率的对数（以 10 为底）的负数，其中透射率在 0 到 1 之间变化。

OD = – log10(T) 或 T = 10-OD

光密度本底噪声：

通过仔细优化我们的测量设备和方法，Semrock 能够提供一些最佳的宽带光密度 (OD) 测量。以下是本网站上显示的大多数测量数据的典型 OD 噪声本底限制。

对于 320 至 1120 nm 之间的波长，接近或低于 3e-7（光密度 6.5）的透射率值受到测量噪声限制。 < 320 nm 和 1120 - 1500 nm 之间，接近或低于 3e-6（光密度 5.5）的透射率值是测量噪声限制。对于波长 > 1500 nm，接近或低于 1e-5（光密度 5.0）的透射率值是测量噪声

此外，对于某些滤光片和/或某些阻塞波长范围，显示的测量值的本底噪声仅为 OD 4 左右。

问：我们如何创建光学滤光片的部件号？

一般产品命名约定如下：

GMBW = 保证的最小带宽 有时，在标注直径/尺寸后，零件号中会有一个附加的结尾。添加\"-D”表示零件未安装。在这种情况下，直径 25 表示直径为玻璃基板为 25mm。添加\"-N”要求零件不带标记，并且不包含 Semrock 徽标、零件号或指示正确方向的箭头。

在这种情况下对于多波段或多陷波滤光片，多个波段将以 xxx/yyy 格式标注，如本多波段二向色镜所示。

对于有多个等级可供购买的部件，等级为以这种方式指定：

以下指南可帮助您关联部件号和产品系列。它不适合用户创建部件号。

缩写代表...产品系列BLPBasic Long PassEdgeBasic™BSPBasic Short PassEdgeBasic™-Dunhousing，无金属环AllDiDichroicBrightLine®EE 级滤光片RazorEdge®、StopLine®EmEmissionBrightLine®FDiFlattest 二向色，用于成像应用BrightLine®FFF 荧光滤光片BrightLine®FRET 荧光共振能量转移BrightLine®Hg 周期符号用于汞MaxLamp®LD激光二极管MaxDiode®L激光荧光BrightLine®LL激光线MaxLine®LM激光复用器LaserMUX™LPL长通BrightLine®、RazorEdge®LPDL长通二向色RazorEdge二向色MEmitterBrightLine®-N未标记所有NF陷波滤波器StopLine®NIRN近红外近IRPBP偏振带通偏振带通QD量子点BrightLine®R反射BrightLine ®、RazorEdge®SS 级过滤器RazorEdge®、StopLine®SDiShort -pass 二向色BrightLine®SP短通RazorEdge®-STRSutter螺纹环All（需要≤ 2 mm基板）TTransmissionBrightLine®TBP可调带通VersaChrome®UU级滤光片RazorEdge®、StopLine®XExciterBrightLine® 问：什么是像素偏移？

滤光片处于成像路径（荧光显微镜中的发射器和/或二向色分束器）使光线发生偏转，导致高分辨率 CCD 相机检测到的图像发生偏移。当获取同一物体的两个或多个图像时，这种转变就会出现问题使用不同的滤光片组，然后重叠，以便同时查看多个荧光团的荧光。由不同荧光团（和不同滤光片组）产生的图像将不会准确地相关或组合，因为根据每个滤光片组中发现的楔角，每个图像移动不同的量。为了消除像素偏移，BrightLine ZEROTM 滤光片组按照严格的公差进行制造和测试，以确保组合多个图像时准确的图像配准。

BrightLine ZERO™ 选项可保证在互换 Semrock ZERO 组时最坏情况下的图像偏移不会发生。小于 ± 1 像素，相对于大量滤光片组样本的平均图像位置进行测量。

此典型落射荧光几何结构示意图（如标准中所示）dard 显微镜）显示滤光片楔块如何导致像素偏移。

由传统滤镜集（左上）生成的合成图像通常具有明显的像素偏移，会失真​​，而 BrightLine 零像素偏移滤镜组（右上）产生精确的多色图像。

问：什么是偏振？

当光以非法线入射角入射到滤光片上时，可以描述光的偏振由与光波电场方向相关的两个正交矢量分量组成。偏振是指\"入射平面”，即平行于滤光片表面法线并包含入射光线和反射光线的平面。偏振分量垂直于入射平面的分量称为\"s”分量，平行于入射平面的分量称为\"p”分量。

在我们的白皮书中了解更多信息， \"了解偏振”

问：传统光谱测量有哪些局限性？

为什么客户的滤光片光谱测量可能与 Semrock 光谱不同？

市售分光光度计针对特定科学和工业应用进行了优化。由于其设计受到价格和性能要求的限制，大多数商用分光光度计的精度不足以准确测量高性能光学滤光片的光谱特性，特别是具有陡峭光谱边缘和深度阻挡的滤光片，这些滤光片是Semrock Hallm方舟。光源、探测器和衍射光栅及其组合性能的功能限制可能会在此类高性能滤光片的光谱测量中产生伪影。由于这些伪影的存在，客户的滤波器频谱测量可能与在 Semrock 执行的测量不同。了解此类测量差异的根源可以推断滤光片的实际性能，并为决策提供指导。

特征圆化使用传统分光光度计测量时，光学滤光片的光谱特征通常显得圆润。当探测光束不是严格单色时，就会出现这种伪影。探测光束的轻微谱宽会产生\"平滑”效应，使急剧的过渡变得圆滑。在这里显示的图表中，特征舍入已经软化了传输带开始处的过渡。本底噪声光检测器有一个灵敏度限制，超过该限制它就不能不报告光强度的变化。此截止水平设置了分光光度计可以测量的最高光密度（OD，定义为 -log10(T)）的限制。因此，测量的 OD 可能会低于实际的过滤器性能。当光照强度低于灵敏度极限时，检测系统将报告零信号，但也会报告检测器内产生的任何噪声。在图表上，这显示为\"本底噪声”，对应于分光光度计可测量的最高 OD。在图中，本底噪声是图表左下角的\"嘈杂”光谱区域。由于光源光谱和光探测器光谱响应的变化，本底噪声可能与波长相关。边带伪影\"扭结”当测量阻挡和透射之间具有极其陡峭过渡的滤光片时，传统分光光度计有时会报告光谱中的\"扭结”。在如图所示，扭结是分光光度计测量值偏离设计光谱的点。如果存在，光谱扭结通常出现在 OD 2.5 和 4.5 之间，并且会给人这样的印象：滤光片的光谱过渡不如实际滤光片性能陡峭。发生扭结是因为衍射光栅中的缺陷会在探测光束的空间轮廓中产生噪声边带。如果探测光束具有显着的边带噪声，并且如果滤波器具有非常陡的边缘，则来自噪声边带的光可能会传输通过滤波器的通带，即使滤波器已经阻挡了探测光束的主要部分。不需要的传输会降低该波长下测得的 OD，从而在边带中产生特征\"扭结”。

有关 Semrock 用于保证滤光片性能的流程的更多信息，请下载我们的白皮书《高级光谱测量系统和 Semrock 光学滤光片》 .

< p style=\"font-size:small;\">示例显示 Semrock LP03-532RU-25 RazorEdge® 滤光片的设计和测量光谱。使用商用分光光度计进行测量

问：什么是萨特螺纹环？在此处了解有关此应用的更多信息。问：什么是波数？

光的\"颜色”通常通过功率分布来识别或强度作为波长的函数。有时用\"波数”来描述光很方便，其中波数 (w) 简单地等于波长的倒数，因此与频率成正比。

波数经常用于拉曼光谱，因为特定拉曼线与激光线的分离由材料的分子特性决定，并且与激光波长无关用于激励线路。这意味着无论激发波长如何，偏移都是恒定频率的，并且可以方便地用波数表示。

要了解更多信息，请查看我们的技术说明\"用波长和波数测量光”。< /p>

问：在观察具有给定荧光团的细胞时，如何选择在应用中使用哪些滤光片？使用SearchLight™ 查找具有给定荧光团的滤光片并对其进行建模。Q ：您能否在光学测试设置中组合两个滤光片以实现更深的阻挡？

组合两个滤光片以实现更深的阻挡的一种方法是稍微倾斜滤光片 r彼此相对。干涉滤光片反射被拒绝的光，因此轻微的倾斜确保被拒绝的光从一对滤光片之间反射出去。

要了解有关组合过滤器的更多信息，我们有一个关于\"一致性和组合过滤器”的演示